受賞

非破壊評価シンポジウム新進賞受賞

髙廣真人さん(M1,環境計測科学研究G)が2020年2月に第12回放射線による非破壊評価シンポジウムにて
新進賞を受賞しました。
研究題目は「半導体デバイスに対するガンマ線重照射効果の計測」です。